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Référence Mode Sampling
Mode Sampling Edit
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Mode d'emploi
Ce mode vous propose une variété d'outils d'édition d'échantillons, avec lesquels vous pouvez modier les échantillons que vous avez
enregistrés en mode Sampling Record et les personnaliser pour vos applications, selon vos besoins.
nDans le cas des échantillons enregistrés en stéréo (avec la fonction Stereo Sampling), les ondes de gauche et de droite de l'échantillon sont éditées
ensemble. Dans ce processus, toute modication apportée au canal de gauche est reproduite exactement sur le canal de droite. L'exception à cette règle
est, bien sûr, Pan car l'échantillon est déjà en stéréo.
nContrairement au mode Sampling Record, l'ensemble des paramètres et des fonctions du mode Sampling Edit sont identiques, quel que soit le mode
précédemment sélectionné.
nToutes les opérations d'édition d'échantillonnage s'appliquent à la forme d'onde (échantillon actuel) et non pas à la voix.
Measure Détermine le nombre de mesures dans l'échantillon à découper.
Lorsque l'opération de découpage est exécutée, les données de séquence correspondant au nombre spécifié de
mesures sont créées. Les données de séquence sont créées à partir du début de la mesure actuelle à laquelle
l'échantillonnage a commencé.
Réglages : 1~8
Meter Spécie l'indication de la mesure de l'échantillon. Le réglage ici correspond à l'unité de tranche de base.
Réglages : 1/16 ~ 16/16, 1/8 ~ 16/8, 1/4 ~ 8/4
SubDivide Le paramètre Meter définit l'unité de tranche de base et le
paramètre SubDivide spécie une résolution encore plus ne des
phrases contenant des régions avec des notes plus courtes. Dans
la phrase illustrée à droite, par exemple, le paramètre Meter doit
être défini sur 4/4 et SubDivide sur 1/2.
Réglages :
Lorsque Meter est
paramétré sur 1 ~ 8/4 ........ noire (1/1), croche (1/2), triolet de noires (1/3), double croche (1/4), triolet de croches (1/6),
triple croche (1/8), triolet de double croches (1/12)
Lorsque Meter est
paramétré sur 1 ~ 16/8 ...... croche (1/1), double croche (1/2), triolet de croches (1/3), triple croche (1/4), triolet de double croches (1/6)
Lorsque Meter est
paramétré sur 1 ~ 16/16 .... double croche (1/1), triple croche 1/2), triolet de double croches (1/3)
nCe paramètre est sans effet lorsque le paramètre Slice Type est défini sur les temps 1~3.
nLa résolution de tranche maximale des échantillons stéréo est de 64 tranches et de 128 tranches pour les échantillons mono.
Sens (Envelope Sensitivity)
(Sensibilité d'enveloppe)
Ajuste avec plus de précision les sous-divisions spécifiées par le paramètre SubDivide. Plus les valeurs sont
élevées, plus la résolution est importante, permettant même aux notes les plus aériennes et aux sons les plus
dicrets d'être détectés et découpés en tranches. Utilisez la fonction Audition (appuyez sur [SF1]) pour écouter les
résultats et, s'ils ne vous satisfont pas, modiez le réglage et réessayez.
Réglages : 1 ~ 5
nCe paramètre n'a aucun effet lorsque le type de tranche « quick » est sélectionné.
Mode Sampling Edit [INTEGRATED SAMPLING] [EDIT]
[F1] KEYBANK
Cet écran vous permet de déterminer l'emplacement de destination où sera stocké l'échantillon enregistré.
Waveform Sélectionnez une forme d'onde qui contient un échantillon que vous voulez éditer. Positionnez le curseur sur le
numéro de la forme d'onde et sélectionnez le numéro de votre choix à l'aide des touches [INC/YES] et [DEC/NO] ou
du cadran de données.
Pour sélectionner la banque de notes de votre choix, maintenez la touche [INFORMATION] enfoncée tout en
appuyant sur la note appropriée du clavier. Appuyez sur la touche [SF2] SELECT pour appeler dans l'ordre les
échantillons affectés à la banque de notes sélectionnée.
Keybank Donne des informations sur la banque de notes sélectionnée. Les plages de notes et de vélocité (qui ne peuvent
être éditées ici) peuvent être modifiées dans l'écran [F4] RANGE.
[SF1] AUDITION Vous pouvez écouter (auditionner) l'échantillon sélectionné à l'aide de la touche [SF1].
[SF2] SELECT Appuyez sur la touche [SF2] pour appeler dans l'ordre les échantillons affectés à la banque de notes sélectionnée.
nLes touches [SF1] AUDITION et [SF2] SELECT peuvent être utilisés de la même façon dans d'autres écrans en modes Sampling Edit et Sampling Job.
[F2] TRIM
Cette opération est la même qu'en mode Sampling Record (lorsque le type d'échantillonnage est réglé sur « slice+seq »). Voir page 253.
[F3] PARAM (Parameter)
Level Détermine le niveau de sortie de l'échantillon sélectionné.
Réglages : -94.5dB ~ 0.0dB
Pan Détermine la position stéréo de l'échantillon sélectionné. Veuillez noter que ce paramètre n'est pas disponible pour
les échantillons enregistrés en stéréo.
Réglages : L64 (extrême gauche) ~ C (centre) ~ R63 (extrême droite)
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